紋影法

紋影法是一門主要用於測量速度，拉伸率等物理量的物理測量方法。

測量對象

紋影法測量的是從光源發出的光線在通過不均勻折射率場時，受擾動的光線對於未擾動光線的偏轉角。

測量方法

紋影法測量偏轉角時，由於偏轉角太小，無法直接測量。此時需要用一塊屏幕放在離光源足夠遠的地方，離開測試段的光線曲率將發生了很大變化。紋影儀是用刀口去切割光源像。因此設置相應的光路布置，在光源焦點處放置一個刀口去切割光源像，由刀口放的位置與屏幕上的光強分布，即亮、暗程度來判斷偏轉角的大小，再由偏轉角來決定不均勻折射率場的折射率梯度。